Versatility and high spatial resolution meet automation with the Scanning Electron Microscope (SEM) JSM-IT810 series..
No-coding automation for imaging and EDS analysis is built-in for a streamlined and efficient workflow.
New functions are available to ensure high quality data and an enhanced user experience for all SEM users.
Functions include the SEM automatic adjustment package, a trapezoidal correction function (useful for EBSD measurements) and Live 3D surface reconstruction for observation of surface topography.
Operating a FE SEM has never been easier with the JSM-IT810 series.
יצרן: JEOL
יש באתר שלנו מאות מוצרים וגם זה עוד לא הכל. אם לא בא לכם לחפש, אתם יכולים פשוט לכתוב כאן בתיבת הצ'אט מה אתם מחפשים ואנחנו נחזור אליכם כמה שיותר מהר עם כל התשובות. ֿ צוות ברגל ציוד אנליטי
היי! שמחים שהגעתם לאתר שלנו! באתר יש כרגע מאות מוצרים ואנחנו מוסיפים מוצרים כל הזמן. אם לא מצאתם את מה שחיפשתם או שאין לכם כוח לחפש (קורה לכולנו), כתבו לנו כאן מה המוצר שאתם מחפשים ונשלח אליכם הצעת מחיר/נחזור אליכם
