JSM-IT200 Scanning Electron Microscope (SEM)

JSM-IT200 is an easy-to-use SEM focused on cost performance of high functionalities of JSM-IT500 (higher-end model) of InTouchScopeTM, with significantly higher throughput.
Specimen Exchange Navi, a beginner-friendly function, offers guided operation from sample loading to area search, and SEM image observation. “Zeromag” for seamless transition from optical to SEM imaging, “Live Analysis”*2 for real time display of elemental analysis results, SMILE VIEW(TM) Lab for seamless report generation of observation and/or analysis results, etc.,

יצרן: JEOL

קטגוריה:

תיאור

JSM-IT200  provide fast analysis with integrated transition from OM to SEM.
Fast observation, analysis and report generation!
JEOL InTouchScope™ series, the high performance analytical tool with major three functions.

צרו קשר

היי! שמחים שהגעתם לאתר שלנו! באתר יש כרגע מאות מוצרים ואנחנו מוסיפים מוצרים כל הזמן. אם לא מצאתם את מה שחיפשתם או שאין לכם כוח לחפש (קורה לכולנו), כתבו לנו כאן מה המוצר שאתם מחפשים ונשלח אליכם הצעת מחיר/נחזור אליכם

    דילוג לתוכן