Scanning Electron Microscope (SEM) – JSM-IT710HR

The JSM-IT710HR Scanning Electron Microscope (SEM) is the fourth-generation model of JEOL's HR* series, which is based on the theme of "SEM that allows anyone to easily take high-resolution images.
This SEM makes users want to pursue beyond what has been seen, due to ease of operation with enhanced automatic functions and improved observation performance from a new detector.

יצרן: JEOL

קטגוריה: Tag: מותג:
תיאור

New functionality for the JSM-IT710HR SEM:

  • Automatic Observation:Simple SEM/EDS
  • Live 3D: constructs 3D image on the spot
  • New Low Vacuum Hybrid Secondary Electron Detector (LHSE) (Hybrid)

צרו קשר

היי! שמחים שהגעתם לאתר שלנו! באתר יש כרגע מאות מוצרים ואנחנו מוסיפים מוצרים כל הזמן. אם לא מצאתם את מה שחיפשתם או שאין לכם כוח לחפש (קורה לכולנו), כתבו לנו כאן מה המוצר שאתם מחפשים ונשלח אליכם הצעת מחיר/נחזור אליכם

    דילוג לתוכן