The JSM-IT710HR Scanning Electron Microscope (SEM) is the fourth-generation model of JEOL's HR* series, which is based on the theme of "SEM that allows anyone to easily take high-resolution images.
This SEM makes users want to pursue beyond what has been seen, due to ease of operation with enhanced automatic functions and improved observation performance from a new detector.
יש באתר שלנו מאות מוצרים וגם זה עוד לא הכל.
אם לא בא לכם לחפש, אתם יכולים פשוט לכתוב כאן בתיבת הצ'אט מה אתם מחפשים ואנחנו נחזור אליכם כמה שיותר מהר עם כל התשובות.
ֿ
צוות ברגל ציוד אנליטי
צרו קשר
היי! שמחים שהגעתם לאתר שלנו! באתר יש כרגע מאות מוצרים ואנחנו מוסיפים מוצרים כל הזמן. אם לא מצאתם את מה שחיפשתם או שאין לכם כוח לחפש (קורה לכולנו), כתבו לנו כאן מה המוצר שאתם מחפשים ונשלח אליכם הצעת מחיר/נחזור אליכם